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首頁-產品系統(tǒng)-介電常數(shù)介質損耗測試儀-工頻介質損耗測試儀-LJD-A/B/C介電常數(shù)介質損耗儀

介電常數(shù)介質損耗儀

更新時間:2024-01-12

簡要描述:介電常數(shù)介質損耗儀 器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)(ε)和介質損耗(tanδ)。

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

一、概述:

LJD-A高頻 介電常數(shù)介質損耗儀 系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據采集和tanδ自動測量控件(裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。介電常數(shù)介質損耗儀 器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)(ε)和介質損耗(tanδ)。

二、主機及夾具參數(shù):

    序號           項目         參數(shù)
 1 型號LJD-A/LJD-B/LJD-C
 2 信號源 DDS數(shù)字合成信號
 3 頻率范圍 10KHZ-110MHZ
 4 信號源頻率覆蓋比   11000:1
 5 采樣精度 11BIT
 6 信號源頻率精度 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
 7 Q值測量范圍 1~1000自動/手動量程
 8 Q值量程分檔 30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
 9 Q分辨率 4位有效數(shù),分辨率0.1
 10 Q測量工作誤差 <5%
 11 電感測量范圍 1nH~8.4H,;分辨率0.1
 12 電感測量誤差 <3%
 13 電容直接測量范圍 1pF~2.5uF
 14 調諧電容誤差分辨率±1pF或<1%
 15 主電容調節(jié)范圍 30~540pF
 16 諧振點搜索 自動掃描
 17 自身殘余電感扣除功能 有
 18    大電容值直接顯示功能    有
 19 介質損耗系數(shù)精度 萬分之一
 20 介電常數(shù)精度 千分之一
 21 LCD顯示參數(shù) F,L,C,Q,LT,CT,波段等
 22 準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%
 23 Q合格預置范圍 5~1000聲光提示
 24 環(huán)境溫度 0℃~+40℃
 25 消耗功率 約25W
 26 電源 220V±22V,50Hz±2.5Hz
 27 極片尺寸 38mm/50mm(二選一)
 28 極片間距可調范圍 ≥15mm
 29 材料測試厚度 0.1-10mm
 30 夾具插頭間距  25mm±0.01mm
 31 夾具損耗正切值 ≤4×10-4 (1MHz)
 32 測微桿分辨率 0.001mm
 33 測試極片 材料測量直徑Φ38/50mm,厚度可調 ≥ 15mm

三、常測材料及符合標準:

固體絕緣材料,絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標準試驗方法;

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法;

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法;

GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測試方法;

四、標準配置

序號配置數(shù)量/單位
1主機一臺
2夾具一套
3電感組九只
4電源線一根
5選配液體杯


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